什么是内置自检 (BIST)

内置自检（BIST）是一种机制或系统，使电子设备和系统能够对其内部功能进行自检和验证。它是专门为促进集成电路在制造过程中进行高效、经济的测试而设计的。

BIST 直接在集成电路中集成了额外的硬件和软件功能，从而减少了对外部自动测试设备 (ATE) 的依赖。这样，集成电路就能利用内部电路测试自身的运行情况，包括功能和参数。通过执行自测试，集成电路可以验证其功能，识别任何潜在的故障或缺陷，并确保可靠的性能。

BIST 被认为是一种可测试性设计（DFT）技术，因为它提高了芯片电气测试的简便性、速度、效率和成本效益。根据具体的电路和产品要求，它可以以不同的方式实现。例如，就 DRAM 而言，常见的 BIST 方法包括在芯片上集成额外的电路，用于模式生成、定时、模式选择和诊断测试。

ATE 测试成本的不断增加和集成电路复杂性的不断提高，推动了 BIST 技术的发展。随着设备变得越来越复杂，不同的功能块采用不同的技术，BIST 为测试与外部引脚没有直接连接的关键电路（如设备内部使用的嵌入式存储器）提供了一种解决方案。

实施 BIST 有几个好处，包括通过减少或消除使用 ATE 进行外部电气测试的需要来降低测试成本；通过在芯片上集成特殊的测试结构来提高故障覆盖率；如果 BIST 可以并行测试更多的结构，则可以缩短测试时间；更方便的客户支持；以及在生产电气测试环境之外执行测试的能力。

潜在的缺点包括：BIST 电路需要额外的硅片面积和工厂处理要求、对存取时间的潜在影响、与外界接口所需的额外引脚和封装尺寸要求，以及如果片上测试硬件本身发生故障，BIST 结果可能不正确。

常见问题

将内置自检（BIST）纳入系统的优点很多。首先，它大大降低了测试成本，因为不再需要使用 ATE 进行外部电气测试。其次，由于可以在芯片上集成特殊的测试结构，BIST 可以更好地覆盖故障。最后，如果 BIST 的设计能提高测试效率，就能缩短测试时间。

内置测试设备，如万用表、示波器、放电探头和频率发生器，被集成到系统中，以方便测试和诊断。BIT 一词通常用来指这种功能或所进行的具体测试。

说明内置自测试的主要目的是最大限度地降低生成测试模式的成本、减少测试数据量和缩短整个测试时间。此外，在数据压缩技术中，比较是在压缩后的测试响应而不是整个测试数据上进行的。