什么是芯片测试仪

什么是芯片测试仪

芯片测试仪又称自动测试设备（ATE），是一种评估半导体芯片功能和性能的工具。这些测试仪由软件和硬件组件组合而成，由计算机控制，在芯片上执行各种测试功能。

芯片测试过程包括两个关键阶段：芯片探测 (CP) 和最终测试 (FT)。在芯片探测过程中，芯片被探测以与其内部电路建立联系。在进入最终测试之前，这一初始测试阶段要确保正确的连接性和功能性。最终测试在芯片封装后进行，根据被测芯片的类型，包含不同的测试方法和要求。

使用芯片测试仪可以测试不同类型的芯片，包括模拟芯片、数字芯片、混合信号芯片和存储器/高速总线芯片。模拟芯片用于连接物理世界，处理连续信号，而数字芯片则采用离散信号进行数据传输，如微处理器。混合信号芯片集成了模拟和数字功能，需要专门的测试。内存/高速总线芯片由于其特殊性，需要更复杂的测试。

芯片测试系统由多个组件组成，包括测试仪本身、设备接口板（DIB）或探针卡、处理程序和测试软件。测试仪根据测试程序要求产生信号，并与被测芯片互动。DIB/ 探头卡作为测试仪和芯片之间的接口，为信号传输和测量提供便利。处理程序负责测试期间芯片的物理移动，而测试软件则使工程师能够开发测试程序并控制测试过程。