Что такое встроенное самотестирование (BIST)

Встроенное самотестирование (BIST) - это механизм или система, позволяющая электронным устройствам и системам выполнять самотестирование и проверку своей внутренней функциональности. Она специально разработана для обеспечения эффективного и экономичного тестирования ИС в процессе производства.

BIST снижает зависимость от внешнего автоматизированного тестового оборудования (ATE) за счет включения дополнительных аппаратных и программных функций непосредственно в ИС. Это позволяет ИС самостоятельно тестировать свою работу, как функционально, так и параметрически, используя свои внутренние схемы. Выполняя самотестирование, ИС могут проверить свою функциональность, выявить любые потенциальные неисправности или дефекты и обеспечить надежную работу.

BIST считается методом проектирования для обеспечения тестируемости (DFT), поскольку он повышает простоту, скорость, эффективность и рентабельность электрического тестирования микросхем. Она может быть реализована различными способами, в зависимости от конкретной схемы и требований к изделию. Например, в случае DRAM обычный подход к BIST предполагает включение в микросхему дополнительных схем для генерации шаблонов, синхронизации, выбора режимов и диагностических тестов.

Развитие методов BIST было обусловлено ростом стоимости тестирования ATE и усложнением интегральных схем. Поскольку устройства становятся все более сложными, с разнообразными функциональными блоками, построенными по различным технологиям, BIST предоставляет решение для тестирования критически важных схем, не имеющих прямых соединений с внешними выводами, например, встроенной памяти, используемой внутри устройств.

Внедрение BIST дает ряд преимуществ, включая снижение стоимости тестирования за счет уменьшения или отсутствия необходимости во внешнем электрическом тестировании с помощью ATE, улучшение покрытия неисправностей за счет включения специальных тестовых структур в микросхемы, сокращение времени тестирования, если BIST может тестировать больше структур параллельно, упрощение поддержки клиентов и возможность проведения тестов вне производственной среды электрического тестирования.

К потенциальным недостаткам можно отнести дополнительную площадь кремния и требования к обработке на заводе для схем BIST, потенциальное влияние на время доступа, дополнительные требования к размерам выводов и корпусов для взаимодействия с внешним миром, а также возможность получения неверных результатов BIST при отказе самого оборудования для тестирования на кристалле.

Часто задаваемые вопросы

Каковы преимущества встроенного самотестирования

Преимущества включения встроенного самотестирования (BIST) в систему многочисленны. Во-первых, это значительно снижает стоимость тестирования, поскольку отпадает необходимость во внешнем электрическом тестировании с помощью ATE. Во-вторых, BIST позволяет лучше охватить неисправности, поскольку в микросхемы можно интегрировать специальные тестовые структуры. И наконец, если BIST спроектирована таким образом, чтобы тестирование было более эффективным, это может привести к сокращению времени тестирования.

Назначение встроенного испытательного оборудования

Встроенное тестовое оборудование, такое как мультиметры, осциллографы, разрядные щупы и генераторы частоты, включается в систему с целью облегчения тестирования и диагностики. Термин BIT обычно используется для обозначения этой функции или конкретных выполняемых тестов.

Что такое встроенное самотестирование, используемое в основном для уменьшения

Пояснения: Основная цель встроенного самотестирования - минимизировать затраты на генерацию тестовых шаблонов, уменьшить объем тестовых данных и сократить общее время тестирования. Кроме того, в технике сжатия данных сравнение выполняется на сжатом тестовом отклике, а не на всех тестовых данных.

Оглавление