O que é o Auto-teste incorporado (BIST)

O que é o Auto-teste incorporado (BIST)

O auto-teste incorporado (BIST) é um mecanismo ou sistema que permite que os dispositivos e sistemas electrónicos realizem auto-testes e verificações da sua funcionalidade interna. Foi especificamente concebido para facilitar o ensaio eficiente e económico de circuitos integrados durante o fabrico.

O BIST reduz a dependência de equipamento de ensaio automatizado (ATE) externo, incorporando caraterísticas adicionais de hardware e software diretamente nos circuitos integrados. Isto permite que os CIs testem o seu próprio funcionamento, tanto funcional como paramétrico, utilizando os seus circuitos internos. Ao realizar auto-testes, os CI podem verificar a sua funcionalidade, identificar eventuais falhas ou defeitos e garantir um desempenho fiável.

A BIST é considerada uma técnica de conceção para testabilidade (DFT), uma vez que melhora a facilidade, a velocidade, a eficiência e a relação custo-eficácia dos testes eléctricos dos chips. Pode ser implementada de várias formas, consoante os requisitos específicos do circuito e do produto. Por exemplo, no caso das DRAM, uma abordagem BIST comum envolve a incorporação de circuitos adicionais no circuito integrado para geração de padrões, temporização, seleção de modos e testes de diagnóstico.

O desenvolvimento de técnicas BIST tem sido impulsionado pelo aumento dos custos dos ensaios ATE e pela crescente complexidade dos circuitos integrados. À medida que os dispositivos se tornam mais complexos, com diversos blocos funcionais construídos em diferentes tecnologias, o BIST fornece uma solução para testar circuitos críticos que não têm ligações diretas a pinos externos, como as memórias incorporadas utilizadas internamente pelos dispositivos.

A implementação do BIST oferece várias vantagens, incluindo custos de teste mais baixos ao reduzir ou eliminar a necessidade de testes eléctricos externos utilizando ATE, uma melhor cobertura de falhas ao incorporar estruturas de teste especiais nos chips, tempos de teste mais curtos se o BIST puder testar mais estruturas em paralelo, um apoio ao cliente mais fácil e a capacidade de realizar testes fora do ambiente de testes eléctricos de produção.

Entre os potenciais inconvenientes contam-se a área adicional de silício e os requisitos de processamento da fábrica para os circuitos BIST, o potencial impacto nos tempos de acesso, os requisitos adicionais em termos de tamanho dos pinos e dos pacotes para a interface com o mundo exterior e a possibilidade de resultados BIST incorrectos se o próprio hardware de teste no chip falhar.