Czym jest Chip Tester

Czym jest Chip Tester

Tester układów scalonych, znany również jako automatyczny sprzęt testujący (ATE), to narzędzie do oceny funkcjonalności i wydajności układów półprzewodnikowych. Testery te składają się z kombinacji komponentów oprogramowania i sprzętu, które są sterowane przez komputer w celu wykonywania różnych funkcji testowania układów.

Proces testowania układów obejmuje dwa kluczowe etapy: Chip Probing (CP) i Final Test (FT). Podczas Chip Probing układ jest sondowany w celu nawiązania kontaktu z jego wewnętrznymi obwodami. Ta wstępna faza testowania zapewnia prawidłową łączność i funkcjonalność przed przejściem do testu końcowego. Test końcowy jest przeprowadzany po zapakowaniu układu i obejmuje różne metody testowania i wymagania w zależności od rodzaju testowanego układu.

Za pomocą testerów układów scalonych można testować różne typy układów, w tym układy analogowe, układy cyfrowe, układy mieszane i układy pamięci/szybkich magistral. Układy analogowe są używane do interakcji ze światem fizycznym i przetwarzają sygnały ciągłe, podczas gdy układy cyfrowe wykorzystują sygnały dyskretne do transmisji danych, takie jak mikroprocesory. Układy mieszane integrują zarówno funkcje analogowe, jak i cyfrowe, co wymaga specjalistycznych testów. Układy pamięci/szybkich magistral mają bardziej złożone wymagania testowe ze względu na ich specyficzne cechy.

System testowania układów składa się z kilku komponentów, w tym samego testera, płyty interfejsu urządzenia (DIB) lub karty sondy, podajnika i oprogramowania testowego. Tester generuje sygnały na podstawie wymagań programu testowego i wchodzi w interakcję z testowanym układem. Karta DIB/sondy działa jako interfejs między testerem a układem, ułatwiając transmisję i pomiar sygnałów. Podajnik jest odpowiedzialny za fizyczny ruch układów podczas testowania, a oprogramowanie testowe umożliwia inżynierom opracowywanie programów testowych i kontrolowanie procesu testowania.