칩 테스터란?

칩 테스터란?

자동 테스트 장비(ATE)라고도 하는 칩 테스터는 반도체 칩의 기능과 성능을 평가하는 도구입니다. 이러한 테스터는 칩의 다양한 테스트 기능을 실행하기 위해 컴퓨터로 제어되는 소프트웨어 및 하드웨어 구성 요소의 조합으로 구성됩니다.

칩 테스트 프로세스에는 두 가지 주요 단계가 포함됩니다: 칩 프로빙(CP)과 최종 테스트(FT)입니다. 칩 프로빙 단계에서 칩은 내부 회로와의 접촉을 설정하기 위해 프로빙됩니다. 이 초기 테스트 단계는 최종 테스트를 진행하기 전에 적절한 연결과 기능을 보장합니다. 최종 테스트는 칩이 패키징된 후 수행되며, 테스트 대상 칩 유형에 따라 다양한 테스트 방법과 요구 사항을 포함합니다.

아날로그 칩, 디지털 칩, 혼합 신호 칩, 메모리/고속 버스 칩 등 다양한 유형의 칩을 칩 테스터를 사용하여 테스트할 수 있습니다. 아날로그 칩은 물리적 세계와 인터페이스하는 데 사용되며 연속 신호를 처리하는 반면, 디지털 칩은 마이크로프로세서와 같이 데이터 전송을 위해 개별 신호를 사용합니다. 혼합 신호 칩은 아날로그와 디지털 기능을 모두 통합하므로 특수한 테스트가 필요합니다. 메모리/고속 버스 칩은 특정 특성으로 인해 더 복잡한 테스트 요구 사항이 있습니다.

칩 테스트 시스템은 테스터 자체, 디바이스 인터페이스 보드(DIB) 또는 프로브 카드, 핸들러, 테스트 소프트웨어 등 여러 구성 요소로 이루어져 있습니다. 테스터는 테스트 프로그램 요구 사항에 따라 신호를 생성하고 테스트 대상 칩과 상호 작용합니다. DIB/프로브 카드는 테스터와 칩 사이의 인터페이스 역할을 하여 신호 전송 및 측정을 용이하게 합니다. 핸들러는 테스트 중 칩의 물리적 이동을 담당하며, 테스트 소프트웨어는 엔지니어가 테스트 프로그램을 개발하고 테스트 프로세스를 제어할 수 있도록 지원합니다.