아날로그 인-서킷 테스트란?

아날로그 인-서킷 테스트란?

아날로그 인-서킷 테스트는 PCB에서 아날로그 구성 요소와 회로의 성능을 평가하는 테스트 방법입니다. 이 기술에는 회로 내 테스트와 같은 특수 장비를 사용하여 회로 노드에 액세스하고 저항, 커패시턴스 및 연산 증폭기와 같은 아날로그 구성 요소의 기능과 같은 중요한 매개 변수를 측정하는 것이 포함됩니다.

아날로그 회로 내 테스트를 수행함으로써 제조업체는 PCB의 아날로그 구성 요소와 회로의 결함이나 오작동을 식별할 수 있습니다. 이 포괄적인 테스트 프로세스를 통해 PCB가 올바르게 작동하고 필요한 사양과 표준을 충족하는지 확인할 수 있습니다. 이를 통해 잘못된 구성 요소 값, 누락되거나 결함이 있는 구성 요소, 저항 값, 커패시턴스 및 인덕턴스와 관련된 문제와 같은 문제를 감지할 수 있습니다.

아날로그 회로 내 테스트는 전원이 켜진 상태에서 수행되므로 실제 작동 조건에서 아날로그 부품을 검사할 수 있습니다. 이 테스트 기법은 PCB의 전반적인 기능과 품질을 보장하는 데 중요한 역할을 하며, 신뢰할 수 있는 고성능 전자 기기 생산에 기여합니다.