바운더리 스캔이란?

바운더리 스캔은 실리콘에서 외부 핀까지의 리드에 추가 셀을 추가하는 테스트 기술입니다. 이를 통해 칩과 보드의 기능을 모두 검증할 수 있습니다. 반면에 JTAG는 Joint Test Action Group의 약자로, 통신 목적으로 사용되는 인터페이스 또는 테스트 액세스 포트를 의미합니다.

바운더리 스캔 레지스터는 입력 핀을 모니터링하는 바운더리 스캔 셀의 데이터를 캡처하는 용도로 사용됩니다. 이 데이터는 검증을 위해 TDO 핀을 통해 디바이스 외부로 스캔할 수 있으며, TDI 핀을 통해 디바이스로 스캔할 수도 있습니다. 이를 통해 테스터는 디바이스의 출력 핀에 있는 데이터를 확인할 수 있습니다.

공동 테스트 액션 그룹의 약자인 JTAG는 인쇄 회로 기판이 제조된 후 설계를 검증하고 테스트하는 데 사용되는 업계 표준입니다. 디지털 시뮬레이션을 보완하고 전자 설계 자동화(EDA)의 온칩 계측 표준을 구현하는 툴입니다.

경계 데이터는 주어진 범위의 극단에 위치한 테스트 데이터 값 집합을 의미합니다. 이러한 값은 예상되는 값의 상한과 하한을 나타내며 허용되어야 합니다. 반대로, 이러한 한계를 벗어나거나 그 이전 또는 이후인 값은 모두 거부되어야 합니다.

JTAG/바운더리 스캔 테스트 아키텍처는 처음에 물리적 테스트 프로브 없이 인쇄 회로 기판(PCB)의 집적 회로(IC) 간 연결을 테스트하기 위해 설계되었습니다. 이는 멀티플렉서 및 래치 회로를 사용하여 생성된 바운더리 스캔 셀을 디바이스의 각 핀에 부착하여 수행됩니다.

펌웨어 추출에 JTAG를 사용하면 여러 가지 이점이 있습니다. 첫째, JTAG는 보편적으로 인정받고 광범위하게 활용되는 프로토콜이므로 이를 활용하는 데 사용할 수 있는 다양한 도구와 리소스가 있습니다. 둘째, JTAG를 사용하면 소프트웨어나 펌웨어 기능을 우회하여 디바이스의 메모리에 직접 액세스할 수 있습니다.

ISO 버전은 기본적으로 RGH/JTAG 버전과 동일하지만 형식이 다릅니다. ISO 파일에는 게임 파일이 포함되어 있는 반면, RGH/JTAG 버전은 다른 형식입니다. 어제 누버트는 파일을 더 작은 포맷으로 압축하는 실험을 하고 있었습니다.

바운더리 스캔 아키텍처는 인쇄 회로 기판(PCB) 및 집적 회로와 같은 구성 요소의 하드웨어 문제를 해결하기 위한 기술과 구조를 정의하는 표준화된 테스트 방법입니다. 이 접근 방식은 복잡하고 밀집된 PCB를 테스트하는 데 특히 유용하며, 이러한 경우 기존의 인서킷 테스터는 그다지 효과적이지 않을 수 있습니다.

IEEE-1149.1 표준에 따른 JTAG TAP 컨트롤러는 테스트 클록(TCK) 및 테스트 모드 선택(TMS) 신호에 의해 제어되는 16개 상태의 유한 상태 기계입니다. TAP 컨트롤러의 전환은 TCK의 상승 에지에 있는 TMS의 상태에 따라 결정됩니다.

IEEE 1149.1이라고도 하는 JTAG 프로토콜은 제조 공정 중 PCB 상호 연결성 테스트를 간소화하기 위해 처음 개발되었습니다.

JTAG는 더 복잡하고 컴팩트한 인쇄 회로 기판(PCB)의 인터커넥트 테스트의 기술적 어려움과 제약을 극복하기 위해 1980년대에 Joint Test Access Group에서 만든 하드웨어 인터페이스입니다.