Cos'è la scansione dei limiti?
La scansione dei limiti, nota anche come JTAG (Joint Test Action Group), è una tecnica di test che prevede l'integrazione di celle di latch del registro a scorrimento, note come celle di scansione dei limiti, in ogni connessione esterna dei dispositivi compatibili con la scansione dei limiti. Queste celle consentono di testare e debuggare i circuiti integrati (IC) e le interconnessioni su un PCB.
Le celle di boundary scan sono posizionate strategicamente adiacenti a ciascun pin I/O (Input/Output) di un IC, formando una catena di shift register che consente il trasferimento di dati tra i dispositivi. Durante il normale funzionamento, le celle di boundary scan rimangono invisibili e non hanno alcun effetto sul circuito. Tuttavia, quando il dispositivo è impostato in modalità test, un flusso di dati seriale, chiamato vettore di test, può essere fatto passare attraverso la catena di shift register. Ciò consente l'acquisizione di dati dalle linee del circuito integrato o l'imposizione di dati su di esse, facilitando test e analisi completi.
Per controllare il dispositivo di boundary scan, vengono utilizzati un Test Access Port (TAP) dedicato e un TAP Controller. Il TAP Controller, una macchina a 16 stati, gestisce il Boundary Register, che è costituito dalle celle di boundary scan. I segnali TAP, inclusi Test Data In (TDI), Test Data Out (TDO), Test Clock (TCK), Test Mode Select (TMS) e Test Reset (TRST) opzionale, vengono utilizzati per controllare il dispositivo di boundary scan ed eseguire varie funzioni di test.
Lo standard IEEE 1149.1 definisce l'architettura e le procedure per il test di boundary scan. Specifica tre funzioni di test obbligatorie: EXTEST, SAMPLE/PRELOAD e BYPASS. Inoltre, lo standard descrive funzioni di test opzionali come INTEST, RUNBIST, IDCODE, CLAMP, HIGHZ e USERCODE. I produttori hanno anche la flessibilità di aggiungere le proprie funzioni di test all'interno delle linee guida dello standard IEEE.
Il Boundary Scan, con la sua capacità di testare e debuggare IC complessi e interconnessioni senza la necessità di sonde di test fisiche, è una tecnica preziosa nel settore dei PCB. Fornisce una soluzione di test completa, in particolare nei casi in cui l'accesso fisico ai pin è difficile a causa di fattori come l'elevata densità dei componenti, le impronte più piccole e le tecnologie avanzate come BGA e SMT.
Domande frequenti
Qual è la differenza tra JTAG e Boundary Scan
Il boundary scan è una tecnologia di test che prevede l'aggiunta di celle extra nei conduttori dal silicio ai pin esterni. Ciò consente di verificare sia il chip che la funzionalità della scheda. D'altra parte, JTAG è un acronimo di Joint Test Action Group, che si riferisce all'interfaccia o alla porta di accesso al test utilizzata per scopi di comunicazione.
Qual è lo scopo del registro Boundary Scan?
Il registro di boundary scan ha lo scopo di acquisire i dati nelle celle di boundary scan, il che implica il monitoraggio dei pin di ingresso. Questi dati possono essere scansionati fuori dal dispositivo attraverso il pin TDO per la verifica e possono anche essere scansionati nel dispositivo attraverso il pin TDI. In questo modo, il tester è in grado di verificare i dati sui pin di uscita del dispositivo.
Cos'è JTAG in PCB
JTAG, che sta per Joint Test Action Group, è uno standard industriale utilizzato per verificare i progetti e testare i circuiti stampati dopo la loro fabbricazione. È uno strumento che integra la simulazione digitale e implementa standard per la strumentazione on-chip nell'automazione della progettazione elettronica (EDA).
Cosa sono i dati di confine
I dati limite si riferiscono a un insieme di valori di dati di test situati agli estremi di un determinato intervallo. Questi valori rappresentano i limiti superiore e inferiore di ciò che è previsto e dovrebbe essere accettato. Viceversa, qualsiasi valore che rientri al di fuori di questi limiti, prima o dopo di essi, dovrebbe essere rifiutato.
Come funziona JTAG
L'architettura di test JTAG/boundary-scan è stata inizialmente progettata per testare le connessioni tra circuiti integrati (IC) su un circuito stampato (PCB) senza la necessità di sonde di test fisiche. Ciò si ottiene collegando celle boundary-scan, create utilizzando circuiti multiplexer e latch, a ciascun pin del dispositivo.
Qual è il vantaggio di JTAG
L'utilizzo di JTAG per l'estrazione del firmware offre numerosi vantaggi. In primo luogo, JTAG è un protocollo universalmente riconosciuto e ampiamente utilizzato, il che significa che esiste una vasta gamma di strumenti e risorse accessibili per il suo utilizzo. In secondo luogo, JTAG consente l'accesso diretto alla memoria del dispositivo, bypassando la necessità di qualsiasi funzionalità software o firmware.
Qual è la differenza tra JTAG e ISO
Le versioni ISO sono essenzialmente le stesse delle versioni RGH/JTAG, ma sono in un formato diverso. I file ISO contengono i file di gioco, mentre le versioni RGH/JTAG sono in un formato diverso. Ieri, Noobert stava sperimentando la compressione dei file in un formato più piccolo.
Cos'è l'architettura Boundary Scan
Un'architettura di boundary scan è un metodo di test standardizzato che definisce le tecniche e la struttura per affrontare i problemi hardware in componenti come circuiti stampati (PCB) e circuiti integrati. Questo approccio è particolarmente utile per testare PCB complessi e densamente popolati, poiché i tradizionali tester in-circuit potrebbero non essere altrettanto efficaci in questi casi.
Cos'è il controller JTAG Tap
Il controller JTAG TAP, secondo lo standard IEEE-1149.1, è una macchina a stati finiti a 16 stati controllata dai segnali di clock di test (TCK) e di selezione della modalità di test (TMS). Le transizioni del controller TAP sono determinate dallo stato di TMS sul fronte di salita di TCK.
Quale protocollo utilizza JTAG
Il protocollo JTAG, noto anche come IEEE 1149.1, è stato inizialmente sviluppato per semplificare il test dell'interconnettività dei PCB durante il processo di produzione.
JTAG è un hardware o un software?
JTAG è un'interfaccia hardware creata dal Joint Test Access Group negli anni '80 per superare le difficoltà tecniche e le restrizioni dei test di interconnessione su circuiti stampati (PCB) più intricati e compatti.