Qué es el autodiagnóstico integrado (BIST)
El autodiagnóstico integrado (BIST) es un mecanismo o sistema que permite a los dispositivos y sistemas electrónicos realizar autodiagnósticos y verificar su funcionalidad interna. Está diseñado específicamente para facilitar la comprobación eficaz y rentable de los circuitos integrados durante su fabricación.
El BIST reduce la dependencia de los equipos externos de pruebas automatizadas (ATE) al incorporar funciones adicionales de hardware y software directamente en los circuitos integrados. Esto permite a los circuitos integrados probar su propio funcionamiento, tanto funcional como paramétricamente, utilizando sus circuitos internos. Al realizar autocomprobaciones, los CI pueden verificar su funcionalidad, identificar posibles fallos o defectos y garantizar un rendimiento fiable.
El BIST se considera una técnica de diseño para la comprobabilidad (DFT), ya que mejora la facilidad, rapidez, eficacia y rentabilidad de las pruebas eléctricas de los chips. Puede aplicarse de varias formas, en función de los requisitos específicos del circuito y del producto. Por ejemplo, en el caso de las memorias DRAM, un enfoque BIST común implica la incorporación de circuitos adicionales en el chip para la generación de patrones, temporización, selección de modo y pruebas de diagnóstico.
El desarrollo de las técnicas BIST se ha visto impulsado por el aumento de los costes de las pruebas ATE y la creciente complejidad de los circuitos integrados. A medida que los dispositivos se vuelven más intrincados, con diversos bloques funcionales construidos sobre diferentes tecnologías, el BIST ofrece una solución para probar circuitos críticos que no tienen conexiones directas con pines externos, como las memorias integradas utilizadas internamente por los dispositivos.
La implantación de BIST ofrece varias ventajas, como la reducción de los costes de las pruebas al disminuir o eliminar la necesidad de pruebas eléctricas externas mediante ATE, la mejora de la cobertura de fallos al incorporar estructuras de prueba especiales en los chips, la reducción de los tiempos de prueba si BIST puede probar más estructuras en paralelo, una asistencia al cliente más sencilla y la posibilidad de realizar pruebas fuera del entorno de pruebas eléctricas de producción.
Entre los posibles inconvenientes cabe citar el aumento de la superficie de silicio y de los requisitos de procesamiento de los circuitos BIST, el posible impacto en los tiempos de acceso, los requisitos adicionales de tamaño de patillas y encapsulado para la interconexión con el mundo exterior y la posibilidad de obtener resultados BIST incorrectos si falla el propio hardware de pruebas en chip.
Preguntas frecuentes
Ventajas del autodiagnóstico integrado
Las ventajas de incorporar el autodiagnóstico integrado (BIST) a un sistema son numerosas. En primer lugar, reduce considerablemente el coste de las pruebas, ya que no es necesario realizar pruebas eléctricas externas con un ATE. En segundo lugar, el BIST permite cubrir mejor los fallos, ya que se pueden integrar estructuras de prueba especiales en los chips. Por último, si el BIST se diseña para realizar las pruebas con mayor eficacia, puede reducir el tiempo de las mismas.
¿Para qué sirven los equipos de ensayo integrados?
Los equipos de prueba integrados, como multímetros, osciloscopios, sondas de descarga y generadores de frecuencia, se incorporan al sistema con el fin de facilitar las pruebas y el diagnóstico. El término BIT se utiliza habitualmente para referirse a esta función o a las pruebas específicas realizadas.
¿Para qué sirve principalmente el autodiagnóstico integrado?
Explicación: El objetivo principal de la autocomprobación integrada es minimizar el coste de la generación de patrones de prueba, disminuir la cantidad de datos de prueba y reducir el tiempo total de la prueba. Además, en la técnica de compresión de datos, la comparación se realiza en la respuesta de prueba condensada en lugar de en los datos de prueba completos.
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