ما هو مسح الحدود

مسح الحدود هو تقنية اختبار تتضمن إضافة خلايا إضافية في الخيوط من السيليكون إلى المسامير الخارجية. وهذا يسمح بالتحقق من وظائف كل من الشريحة واللوحة. من ناحية أخرى، JTAG هو اختصار لـ Joint Test Action Group، والذي يشير إلى الواجهة أو منفذ الوصول الاختباري المستخدم لأغراض الاتصال.

يخدم سجل مسح الحدود غرض التقاط البيانات في خلايا مسح الحدود، والذي يتضمن مراقبة منافذ الإدخال. يمكن مسح هذه البيانات من الجهاز من خلال دبوس TDO للتحقق، ويمكن أيضًا مسحها ضوئيًا إلى الجهاز من خلال دبوس TDI. ومن خلال القيام بذلك، يكون جهاز الاختبار قادرًا على التحقق من البيانات الموجودة على منافذ الإخراج الخاصة بالجهاز.

JTAG، الذي يرمز إلى Joint Test Action Group، هو معيار صناعي يستخدم للتحقق من التصميمات واختبار لوحات الدوائر المطبوعة بعد تصنيعها. إنها أداة تكمل المحاكاة الرقمية وتنفذ معايير الأجهزة الموجودة على الرقاقة في أتمتة التصميم الإلكتروني (EDA).

تشير البيانات الحدودية إلى مجموعة من قيم بيانات الاختبار الموجودة في أقصى نطاق معين. وتمثل هذه القيم الحدود العليا والدنيا لما هو متوقع وما ينبغي قبوله. وعلى العكس من ذلك، يجب رفض أي قيم تقع خارج هذه الحدود، سواء قبلها أو بعدها.

تم تصميم بنية اختبار JTAG/border-scan في البداية لاختبار الاتصالات بين الدوائر المتكاملة (ICs) على لوحة الدوائر المطبوعة (PCB) دون الحاجة إلى تحقيقات الاختبار المادي. يتم تحقيق ذلك عن طريق ربط خلايا مسح الحدود، التي يتم إنشاؤها باستخدام دوائر معدد الإرسال والمزلاج، بكل طرف على الجهاز.

يوفر استخدام JTAG لاستخراج البرامج الثابتة فوائد عديدة. أولاً، JTAG هو بروتوكول معترف به عالميًا ومستخدم على نطاق واسع، مما يعني أن هناك مجموعة واسعة من الأدوات والموارد التي يمكن الوصول إليها لاستخدامه. ثانيًا، يتيح JTAG الوصول المباشر إلى ذاكرة الجهاز، متجاوزًا الحاجة إلى أي برنامج أو وظيفة البرامج الثابتة.

إصدارات ISO هي في الأساس نفس إصدارات RGH/JTAG، ولكنها بتنسيق مختلف. تحتوي ملفات ISO على ملفات اللعبة، بينما تكون إصدارات RGH/JTAG بتنسيق مختلف. بالأمس، كان نوبرت يقوم بتجربة ضغط الملفات إلى تنسيق أصغر.

إن بنية مسح الحدود هي طريقة اختبار موحدة تحدد التقنيات والبنية لمعالجة مشكلات الأجهزة في مكونات مثل لوحات الدوائر المطبوعة (PCBs) والدوائر المتكاملة. يعد هذا النهج مفيدًا بشكل خاص لاختبار مركبات ثنائي الفينيل متعدد الكلور المعقدة والمكتظة بكثافة، حيث قد لا تكون أجهزة الاختبار التقليدية داخل الدائرة فعالة في هذه الحالات.

وحدة التحكم JTAG TAP، وفقًا لمعيار IEEE-1149.1، عبارة عن آلة ذات حالة محدودة ذات 16 حالة يتم التحكم فيها بواسطة ساعة الاختبار (TCK) وإشارات تحديد وضع الاختبار (TMS). يتم تحديد انتقالات وحدة التحكم TAP من خلال حالة TMS على الحافة الصاعدة لـ TCK.

تم تطوير بروتوكول JTAG، المعروف أيضًا باسم IEEE 1149.1، في البداية لتبسيط اختبار التوصيل البيني لثنائي الفينيل متعدد الكلور أثناء عملية التصنيع.

JTAG عبارة عن واجهة أجهزة تم إنشاؤها بواسطة Joint Test Access Group في الثمانينيات للتغلب على الصعوبات الفنية والقيود المفروضة على اختبار الوصلات البينية على لوحات الدوائر المطبوعة الأكثر تعقيدًا وضغطًا (PCBs).